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新研發設備: 掃瞄式電子顯微鏡
2024-10-08

新研發設備: 掃瞄式電子顯微鏡

引進新的研發設備 - 掃描電子顯微鏡 (SEM):

 

SEM 使我們能夠分析任何化合物的結構,是確保我們產品品質的重要設備。透過分析不同階段的PTFE半成品與它的物理特性,我們可以進一步改進我們的製造技術,確保為客戶提供最佳的品質。 SEM 還可以透過分析失效的密封件並識別潛在的失效因素,有助於找到密封失效背後的原因。

 

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